PLCC型元件基于視覺檢測的核心算法研究.pdf

1、PLCC(Plastic Leaded Chip Carrier)是表面貼裝過程中常見的封裝類型，在其生產(chǎn)和貼裝過程中視覺檢測因實時性好、精度高、速度快逐漸成為檢測的主要策略。對 PLCC元件視覺檢測的核心算法研究，不僅可以用于PLCC元件的生產(chǎn)質量檢測和高精度貼片機中的元件視覺對中檢測，也可以為細長矩形引腳元件檢測做算法儲備。本文將核心算法分為預處理、參數(shù)獲取、位姿及缺陷檢測三大部分，選擇算法和設計流程使檢測結果達到系統(tǒng)要求，具體研究

2、內(nèi)容如下：
　　(1)將預處理階段分為圖像二值化和輪廓跟蹤提取兩個過程。針對圖像灰度直方圖的特點，選擇了4種二值化算法分割元件引腳，并對每種算法的改進算法進行了研究，對比分割結果和實時性確定了一維快速Otsu作為預處理中的二值化算法。針對基于拓撲理論的兩種輪廓提取算法進行了測試分析，確定只提取最外層輪廓算法作為引腳輪廓跟蹤提取算法。
　　(2)將參數(shù)信息分為元件參數(shù)、引腳參數(shù)和引腳組參數(shù)，確定了一種不依賴先驗數(shù)據(jù)的參數(shù)獲取流

3、程。針對其中的關鍵算法即最小外接矩形提取和引腳聚類的實現(xiàn)進行了分析討論，采用了改進旋轉法求取引腳輪廓凸包的最小外接矩形和初始中心點改進 K均值聚類算法對引腳聚類，并設計了一種引腳分類算法流程。對參數(shù)獲取的引腳參數(shù)精度進行了統(tǒng)計分析，測試表明，本文設計的參數(shù)獲取算法可以達到系統(tǒng)精度要求。
　　(3)將元件檢測分為位姿檢測和缺陷檢測。對位姿檢測中的直接計算法結合加權最小二乘算法和擬合矩形算法提出了4種獲取位姿算法，測試表明擬合矩形法的