三相電能質(zhì)量分析儀中的電壓變動(dòng)檢測(cè)算法研究與實(shí)現(xiàn).pdf

1、隨著我國(guó)經(jīng)濟(jì)的迅猛發(fā)展，電力系統(tǒng)所承受的壓力也在逐年增大，隨之帶來(lái)的各種電力系統(tǒng)問(wèn)題也逐漸加重。近些年電力系統(tǒng)中運(yùn)行的大量非線(xiàn)性負(fù)載、波動(dòng)性載荷，都會(huì)引起電網(wǎng)運(yùn)行電壓的不穩(wěn)定，產(chǎn)生電壓的波動(dòng)與閃變。另外，供電系統(tǒng)線(xiàn)路中的重合閘操作會(huì)帶來(lái)電壓的驟降，線(xiàn)路中的不對(duì)稱(chēng)短路接地則會(huì)引發(fā)電壓驟升。諸如此類(lèi)的電壓變動(dòng)事件會(huì)嚴(yán)重影響工業(yè)生產(chǎn)，帶來(lái)不必要的損失，因此，需要對(duì)各類(lèi)電壓變動(dòng)參數(shù)進(jìn)行準(zhǔn)確測(cè)量。
　　在所有的電壓變動(dòng)指標(biāo)中，閃變檢測(cè)是一個(gè)

2、重點(diǎn)與難點(diǎn)。傳統(tǒng)的閃變檢測(cè)方法實(shí)現(xiàn)過(guò)程較為復(fù)雜，為了能夠在一臺(tái)電能質(zhì)量分析儀中同時(shí)實(shí)現(xiàn)對(duì)多種電壓變動(dòng)參數(shù)的測(cè)量，需要使用較為先進(jìn)的離散化閃變檢測(cè)方法，并對(duì)該方法進(jìn)行實(shí)用程度上的優(yōu)化，以達(dá)到更加優(yōu)秀的檢測(cè)效果。另外，各項(xiàng)電壓變動(dòng)參數(shù)的檢測(cè)規(guī)范、處理周期、數(shù)據(jù)量都不一樣，想要在一個(gè)三相系統(tǒng)中同時(shí)實(shí)現(xiàn)多種電壓變動(dòng)參數(shù)的檢測(cè)，還面臨很多困難。因此，本文對(duì)各項(xiàng)電壓變動(dòng)參數(shù)的檢測(cè)方法進(jìn)行分析與實(shí)現(xiàn)，重點(diǎn)研究了閃變的檢測(cè)與實(shí)現(xiàn)方法。
　　首先，

3、本文對(duì)電壓變動(dòng)與閃變的檢測(cè)方法進(jìn)行了系統(tǒng)的研究，對(duì)其他的電壓變動(dòng)參數(shù)，結(jié)合IEC標(biāo)準(zhǔn)與國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行了檢測(cè)方法的研究與確定。
　　其次，本文基于 IEC推薦的閃變檢測(cè)方法，重點(diǎn)研究離散化的閃變算法，從理論基礎(chǔ)與實(shí)現(xiàn)過(guò)程的角度對(duì)離散化算法進(jìn)行分析，找出其不足之處，并有針對(duì)性的加以改進(jìn)。提出離散化閃變檢測(cè)方法的優(yōu)化方案，通過(guò)提高波動(dòng)曲線(xiàn)分辨率、采用較高的運(yùn)算點(diǎn)數(shù)減小插值帶來(lái)的誤差，采用較高的量化位數(shù)減小傳輸、量化帶來(lái)的誤差，重點(diǎn)是采用基

4、波過(guò)零點(diǎn)采樣起始位置，并矯正理論誤差。將優(yōu)化后的檢測(cè)結(jié)果與原有的IEC方法進(jìn)行對(duì)比，仿真結(jié)果表明0~25Hz瞬時(shí)閃變最大誤差從11％降至1%。
　　隨后，本文對(duì)三相電能質(zhì)量分析儀的軟件系統(tǒng)進(jìn)行設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn)，在 FPGA中進(jìn)行數(shù)據(jù)采集，在DSP中實(shí)現(xiàn)全部參數(shù)計(jì)算，并移交ARM進(jìn)行顯示。詳細(xì)設(shè)計(jì)了電壓變動(dòng)參數(shù)檢測(cè)的實(shí)現(xiàn)方法，并從數(shù)據(jù)鏈路的角度設(shè)計(jì)數(shù)據(jù)的傳輸過(guò)程。
　　最后，本文用標(biāo)準(zhǔn)源與三相電能質(zhì)量分析儀搭建平臺(tái)對(duì)電壓變動(dòng)指標(biāo)進(jìn)行