面向模擬IC測(cè)試儀的任意波形發(fā)生器設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn).pdf

1、模擬IC（Integrated Circuit，IC）自動(dòng)測(cè)試儀是集成電路測(cè)試的常用儀器。它是集成電路自動(dòng)測(cè)試儀系統(tǒng)中必不可少的工具。而任意波形發(fā)生器（Arbitrary Waveform Generator，AWG）作為其重要組成部分，對(duì)整個(gè)測(cè)試儀系統(tǒng)的參數(shù)性能指標(biāo)有著直接的影響。目前國(guó)內(nèi)外供應(yīng)任意波形發(fā)生器的廠商總體來(lái)說(shuō)比較多。考慮到項(xiàng)目本身定位是低成本模擬IC自動(dòng)測(cè)試儀，如果在任意波形發(fā)生器模塊直接選用其它公司的產(chǎn)品，雖然會(huì)降低整

2、個(gè)項(xiàng)目開發(fā)周期，但也會(huì)極大的提高項(xiàng)目的成本。同時(shí)，考慮到整個(gè)測(cè)試儀系統(tǒng)采用的是一種開放式的架構(gòu)，因此對(duì)各個(gè)功能板卡的接口有嚴(yán)格的要求，其它公司的產(chǎn)品不便于集成。基于以上兩點(diǎn)，自己研發(fā)任意波形發(fā)生器模塊就顯得尤為重要。另外，AWG模塊在具體實(shí)現(xiàn)時(shí)，采用了ARB Mode和DDS Mode兩種模式，即任意波形產(chǎn)生模式和直接數(shù)字合成（Direct Digital Synthesis,DDS）模式。
　　本文第一章對(duì)集成電路自動(dòng)化測(cè)試相關(guān)

3、產(chǎn)業(yè)以及面向模擬IC測(cè)試的任意波形發(fā)生器的發(fā)展現(xiàn)狀做了相關(guān)介紹。第二章為模擬IC測(cè)試儀的軟硬件系統(tǒng)架構(gòu)設(shè)計(jì)。第三章為任意波形發(fā)生器的硬件系統(tǒng)設(shè)計(jì)，具體主要包括FPGA、SDRAM、波形產(chǎn)生DAC、濾波器電路、差分轉(zhuǎn)單端電路、幅度精調(diào)電路、幅度粗調(diào)電路、幅度偏移電路、輸出阻抗選擇電路、同步輸出電路、觸發(fā)源接口電路、信號(hào)調(diào)理電路、SRAM存儲(chǔ)器板、DDS板、繼電器驅(qū)動(dòng)電路、電源部分；其中，信號(hào)調(diào)理電路又包括偏置、衰減放大、過(guò)壓保護(hù)、ADC幾