基于部分復用和統(tǒng)計的SoC測試數(shù)據(jù)壓縮方法研究.pdf

1、在當代集成電路生產(chǎn)過程中，對集成電路的測試變得至關重要。隨著集成電路的集成度增高，電路的規(guī)模會相應增大，完成的功能也會增強，從而對電路的測試也變得越來越復雜，測試所需的費用占總體成本的比例也不斷增加。片上系統(tǒng)（SoC）采用知識產(chǎn)權核復用技術，這雖然縮短了芯片開發(fā)周期、提高芯片的生產(chǎn)效率，但同時也帶來了諸多問題。例如，隨著SoC集成度的提高，需要對其測試的測試數(shù)據(jù)量隨之激增，這給自動測試設備的存儲器容量和帶寬都帶來了巨大的挑戰(zhàn)。
　

2、　 目前測試數(shù)據(jù)壓縮技術是解決上述問題的有效方法之一。本文對多種有效的測試數(shù)據(jù)壓縮方法進行重點分析，并在此基礎上提出了兩種新的基于部分復用的測試數(shù)據(jù)壓縮方法，其中主要內(nèi)容有：
　　 （1）本文首先介紹了SoC背景知識和SoC測試的基本原理，然后分析了SoC測試所面臨的挑戰(zhàn)，并重點對一些測試數(shù)據(jù)壓縮方法進行分析和總結(jié)。
　　 （2）本文提出一種基于部分數(shù)據(jù)塊復用的SoC測試數(shù)據(jù)壓縮方法。在對數(shù)據(jù)塊的相關性、部分復用性以及

3、電路測試集的實際情況進行分析之后，確定合理的數(shù)據(jù)塊長度范圍，并對無關位進行合理的賦值，使數(shù)據(jù)塊之間的相關性和部分復用性都較好。然后以測試集中的每條測試向量為單位，并為其尋找最優(yōu)參考塊，再利用數(shù)據(jù)塊相關性統(tǒng)計和數(shù)據(jù)塊部分復用的方法進行壓縮，取得了較好的壓縮率。
　　 （3）本文提出一種基于局部復用的選擇Huffman編碼方法。將測試集按固定長度劃分成數(shù)據(jù)塊后，通過對測試集中無關位進行合理的賦值提高數(shù)據(jù)塊之間的相關性和局部復用性，并