FeS2(pyrite)太陽能光電薄膜的制備與性能研究.pdf_第1頁
已閱讀1頁,還剩79頁未讀 繼續(xù)免費閱讀

下載本文檔

版權說明:本文檔由用戶提供并上傳,收益歸屬內容提供方,若內容存在侵權,請進行舉報或認領

文檔簡介

1、由于FeS2(pyrite)具有窄的禁帶寬度(Eg=0.95eV)和高的吸收系數(shù)(在λ≤700nm時,α>6×105cm-1),使它成為一種很有發(fā)展前途的太陽能材料。而且其組元元素儲量十分豐富、無毒,在制備太陽能電池時可以以薄膜形式使用,成本較低,與已有半導體材料相比,是較理想的太陽能電池材料。
  本實驗將溶膠-凝膠法(Sol-Gel法)制備的純Fe2O3納米薄膜在飽和硫蒸汽壓中硫化制備FeS2膜,并研究了硫化溫度、硫化時間、硫

2、化壓力與薄膜厚度對制備的FeS2薄膜材料的影響規(guī)律。研究結果表明,硫化溫度為350℃時能充分形成FeS2,高于350℃后,硫化溫度的升高對FeS2的沒有明顯的促進作用。硫化溫度越高,FeS2晶粒尺寸越大,薄膜電阻率越高。隨著硫化時間的延長,薄膜晶粒呈長大趨勢。350℃、80kPa硫化時,在實驗用硫化時間內(2-40h),隨著硫化時間的延長,薄膜的S/Fe值、晶粒尺寸及薄膜禁帶寬度增大,而電阻率則隨之減小。當硫化溫度高于350℃,硫化時間

3、長于10h時,薄膜結晶存在擇優(yōu)取向。
  在硫化時間為20h的情況下,所有實驗硫化壓力(40-100kPa)對S/Fe值影響不明顯,在80kPa附近S/Fe值為2。薄膜的晶粒尺寸在硫化壓力為60kPa時最小,大約為68nm;薄膜電阻率在硫化壓力為80kPa時最小,為1.3Ω.cm;而薄膜的禁帶寬度在硫化壓力為80kPa時最大,為0.92eV。
  采用硫化不同厚度的Fe2O3膜制備不同厚度的FeS2膜的方法,研究了不同厚度F

4、eS2薄膜的晶體結構、電阻率、光吸收系數(shù)以及禁帶寬度。結果表明,隨著Fe2O3膜厚度的增加(80-600nm),由于硫化不完全,硫化后薄膜的S/Fe值呈下降趨勢,薄膜的晶粒尺寸和薄膜的飽和區(qū)光吸收系數(shù)隨之減小,薄膜的禁帶寬度隨之先增大而后減小,而薄膜電阻率隨之增加。
  Fe2O3膜比較薄時容易被硫化成FeS2薄膜,硫化后的晶粒尺寸比較大,但存在針孔(pinholes)等點缺陷(point defect);而當Fe2O3膜比較厚時

溫馨提示

  • 1. 本站所有資源如無特殊說明,都需要本地電腦安裝OFFICE2007和PDF閱讀器。圖紙軟件為CAD,CAXA,PROE,UG,SolidWorks等.壓縮文件請下載最新的WinRAR軟件解壓。
  • 2. 本站的文檔不包含任何第三方提供的附件圖紙等,如果需要附件,請聯(lián)系上傳者。文件的所有權益歸上傳用戶所有。
  • 3. 本站RAR壓縮包中若帶圖紙,網(wǎng)頁內容里面會有圖紙預覽,若沒有圖紙預覽就沒有圖紙。
  • 4. 未經(jīng)權益所有人同意不得將文件中的內容挪作商業(yè)或盈利用途。
  • 5. 眾賞文庫僅提供信息存儲空間,僅對用戶上傳內容的表現(xiàn)方式做保護處理,對用戶上傳分享的文檔內容本身不做任何修改或編輯,并不能對任何下載內容負責。
  • 6. 下載文件中如有侵權或不適當內容,請與我們聯(lián)系,我們立即糾正。
  • 7. 本站不保證下載資源的準確性、安全性和完整性, 同時也不承擔用戶因使用這些下載資源對自己和他人造成任何形式的傷害或損失。

評論

0/150

提交評論