基于SJTAG的系統(tǒng)級(jí)測(cè)試研究.pdf

1、隨著邊界掃描測(cè)試技術(shù)的不斷深入研發(fā)，它已經(jīng)突破了傳統(tǒng)管腳接觸式測(cè)試?yán)碚摵褪侄危鉀Q了傳統(tǒng)技術(shù)所不能完成的大規(guī)模集成電路的檢測(cè)。雖然邊界掃描技術(shù)針對(duì)不同的測(cè)試類型和測(cè)試任務(wù)，形成了一系列的國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)，但在系統(tǒng)級(jí)測(cè)試方向，仍然缺乏一個(gè)行之有效的通用的國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)。
　　本文針對(duì)目前系統(tǒng)級(jí)測(cè)試的實(shí)現(xiàn)方案進(jìn)行了深入研究，并結(jié)合 SJTAG（System Joint Test Action Group）工作組提出的系統(tǒng)級(jí)測(cè)試建議，從硬軟兩方面改進(jìn)

2、了系統(tǒng)級(jí)測(cè)試。一方面搭建了以1149.1協(xié)議為基礎(chǔ)，JTAG總線為架構(gòu)的系統(tǒng)級(jí)測(cè)試系統(tǒng)硬件環(huán)境。該測(cè)試系統(tǒng)以主從方式鏈接，由一塊主控板和多個(gè)測(cè)試單板組成。主控板發(fā)出JTAG測(cè)試總線，各個(gè)測(cè)試單板都與測(cè)試總線并行鏈接。主控板控制測(cè)試單板的選通與斷開(kāi)，也同時(shí)控制測(cè)試單板上邊界掃描測(cè)試。另一方面，在已有測(cè)試平臺(tái)條件下，對(duì)已有的軟件的測(cè)試程序和測(cè)試算法做了部分改善，使其可以更適應(yīng)系統(tǒng)級(jí)測(cè)試要求，較好的完成系統(tǒng)級(jí)測(cè)試任務(wù)。
　　本文采用硬件