快速靜電探針測(cè)量?jī)x的設(shè)計(jì)和開發(fā).pdf_第1頁(yè)
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1、靜電探針測(cè)量?jī)x是主要用于等離子體參數(shù)測(cè)量的一種儀器設(shè)備。在常規(guī)測(cè)量?jī)x的基礎(chǔ)上設(shè)計(jì)開發(fā)出快速型的測(cè)量?jī)x,可進(jìn)一步拓展其應(yīng)用范圍,如脈沖等離子體參數(shù)的時(shí)間分布、穩(wěn)態(tài)等離子體參數(shù)的時(shí)空分布、等離子體參數(shù)的實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)、乃至高溫等離子體參數(shù)的診斷等,因此具有很好的應(yīng)用開發(fā)價(jià)值。
   針對(duì)靜電探針測(cè)量系統(tǒng)快速性這一核心問(wèn)題,進(jìn)行了方案綜合分析和軟硬件平臺(tái)的設(shè)計(jì);針對(duì)具體實(shí)現(xiàn)過(guò)程中一些關(guān)鍵性的技術(shù)問(wèn)題,進(jìn)行了設(shè)計(jì)分析與實(shí)驗(yàn)驗(yàn)證,這為快速靜電探

2、針測(cè)量?jī)x的產(chǎn)品化提供了必要的技術(shù)基礎(chǔ)。具體工作內(nèi)容如下:
   1、根據(jù)等離子體參數(shù)測(cè)量的用戶需求,明確了快速靜電探針測(cè)量?jī)x的主要技術(shù)指標(biāo),在設(shè)計(jì)方案中,硬件平臺(tái)核心由ARM9處理器和FPGA構(gòu)成,具體進(jìn)行了整個(gè)硬件系統(tǒng)的電路設(shè)計(jì)。
   2、根據(jù)靜電探針測(cè)量中掃描電壓需要高速高壓的性能要求,設(shè)計(jì)并研制了快速高壓鋸齒波信號(hào)放大模塊,這為脈沖等離子體參數(shù)測(cè)量中需要提供無(wú)畸變的快速掃描輸出奠定了重要的基礎(chǔ)。
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