嵌入式memory內建自測試算法.pdf_第1頁
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文檔簡介

1、本文對嵌入式內存的內建自測試技術的核心問題——測試算法進行了研究，并對其他內存測試方法作了介紹和比較。在原有測試算法的基礎上對其進行了修正，提出了具有更高的故障覆蓋率，并且具有更好的故障診斷能力的測試算MARCHTB+算法，通過在自主研發(fā)的Garfield4芯片中的實驗可知，它實現了在具有很高故障覆蓋率的前提下提高了故障診斷能力。對地址譯碼故障(AF)，傳輸故障(TF)，stuck_at故障(SAF)，耦合故障(CF)，數據保留故障(D

2、RF)這些主要內存故障的覆蓋率達到100％，除了stuckat1故障與傳輸故障中由1到0的轉換故障，其他故障都能診斷出故障類型，尤其是解決了stuckat0故障與傳輸故障中由0到1的轉換故障，狀態(tài)耦合中低位1決定高位0與高位1決定低位0，低位0決定高位1與高位0決定低位1的診斷問題，由于算法的修正使得測試時間相比于原有的Garfield4中MARCHC-(2.1毫秒)有所增加，為3毫秒(時間數據都指是20K的eSRAM分成4塊同時測試的

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